SCY-15G型便攜式激光平面干涉儀主要用于高精密光學(xué)平面的平面度測量，光學(xué)平板的微小楔角測量,光學(xué)材料均勻性測量,光學(xué)薄板波前誤差的測量。由于其獨特的結(jié)構(gòu)設(shè)計，拓展后可以滿足角錐測量、光學(xué)系統(tǒng)測量、便攜測量等多場景應(yīng)用。是光學(xué)元件加工廠、光學(xué)儀器生產(chǎn)廠、大專院校、職工培訓(xùn)機構(gòu)以及計量單位必備的光學(xué)檢測儀器及教學(xué)設(shè)備。

特點：

此型號儀器是以菲索干涉原理為基礎(chǔ)，研制的檢測專用干涉儀，具有良好的防震性能、穩(wěn)定的條紋鎖定度、視場清晰、生產(chǎn)場所可用性優(yōu)于市場同類產(chǎn)品。